服務支持Service
To first-class products
Quality service to meet customer needs
國內市場部
0510-83205379
24小時服務
國際貿易部
0510-68795132 15106177808
傳 真：0510-83213469
E-mail：wuxi@chxyq.com
地 址：江蘇省無錫市濱湖區梁通路19號免費咨詢熱線:
400-0833-980
手持式光譜分析儀的理論系數法
發布時間：2020-09-02 09:01:19 點擊：5853
理論系數法是通過理論計算元素之間影響系數，進而對基體進行一定程度上的校正。常規理論系數法一般是通過質量吸收系數來計算元素之間影響系數,只考慮了吸收效應，沒有考慮增強效應，因此校正效果有一定偏差，準確度弱于FP法。軟件可通過理論強度來計算影響系數，同時考慮了吸收和增強效應，準確度與FP法相當。
手持式光譜分析儀
背景FP法
XRF準確分析的前提是待測樣必須是與標樣一致的規范樣品，即塊狀、表面光滑。當在實際應用中待測樣可能是各式各樣非規范樣品(比如粉末、顆粒、礦石等)，來不及或不能制樣。如果直接測會產生相當大的誤差,這是工作曲線法、經驗系數法、理論系數法或者常規FP法無法勝任的。
X射線照射樣品，除產生熒光外還發生散射形成背景。散射有兩種:康普頓散射和瑞利散射。通過分別計算這兩種散射的散射系數得到背景散射強度,導入到熒光FP法中去，進行散射(背景)校正，這就是背景FP法。
以上的兩種方法是手持式光譜分析儀在運行中所考慮修正誤差的方法，是手持式光譜分析儀器保持精度的關鍵。
上一篇：X射線熒光分析儀器鍍窗厚度的影響 下一篇：X射線熒光光譜儀有哪些改進方向？
